Zum WerkFür alle Teilnehmer der Europäischen Eignungsprüfung (EEP) bietet das neue Werk
zielorientierte Methodiken zum Bestehen der EEP in den Teilen A B C und D. Alle
prüfungsrelevanten Themen sind in deutscher und englischer Sprache synoptisch dargestellt.
Besonderes Gewicht wird auf inhaltlich gut strukturierte Hilfestellungen gelegt.Besonders
hilfreich: Immer dort wo es für die Methodiken nötig ist sind auch patentrechtliche
Grundlagen erläutert. Dabei wird jeweils auf Gesetze Rechtsprechung und Prüfungsrichtlinien
verwiesen.Vorteile auf einen Blick- Schritt-für-Schritt Vorgehensweisen- Zeitangaben pro
Bearbeitungsschritt- Details der Punktevergabe- Prüfungsschemata für patentrechtliche Fragen-
Formulierungsvorschläge und ganze Textpassagen- Tabellen als Bearbeitungshilfen- praktische
Tipps für die PrüfungZielgruppe:Für Teilnehmer der Europäischen Eignungsprüfung.
