9783406761959 - Becksche Kurz-Kommentare   Europäisches Patentübereinkommen Leinen

EAN: 9783406761959

Produktdaten aktualisiert am: 12.11.2024
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Zum WerkDer Kommentar knüpft an die Tradition des Benkard zum PatG an und erläutert und vertieft die eigenständige Entwicklung der Rechtsprechung der Beschwerdekammern des EPA und dessen Prüfungspraxis. Während sich das Parallelwerk zum PatG vornehmlich an der Rechtsprechung des X. Senats des BGH orientiert legt der vorliegende Kommentar die Amtspraxis der Prüfungs- und Einspruchsabteilungen dar und erklärt die eigenständige Entwicklung der Rechtsprechung der Beschwerdekammern.Vorteile auf einen Blick Erläuterung durch erfahrene Praktikerinnen und Praktiker gründliche Darstellung nach deutschem Kommentarstandard Mitbehandlung der relevanten Nebenvorschriften Zur NeuauflageDie Neuauflage berücksichtigt neben einer Vielzahl aktueller Entscheidungen insbesondere die neuen Richtlinien für die Prüfung im Europäischen Patentamt sowie Fragen zum Europäischen Patent mit einheitlicher Wirkung (EPeW) und dem Einheitlichen Patentgericht (EPG).ZielgruppeFür Rechtsanwaltschaft Patentanwaltschaft und Patentanwaltskandidatinnen und Patentanwaltskanditen patentamtliche Prüferinnen und Prüfer Richterschaft Erfinderinnen und Erfinder Rechts- und Patentabteilungen von Wirtschaftsunternehmen.

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