Der Test stellt einen wichtigen Schritt im Entwurfs-und Herstellungsablauf digitaler Schal
tungen dar indem er unter Anwendung bestimmter Eingangssignale die Funktion einer ent worfenen
Schaltung an einem hergestellten Exemplar zu verifizieren erlaubt. Diese Aufga bensteIlung gilt
gleichermaßen für diskret aufgebaute Logik wie für integrierte Schaltungen. Doch kommt wegen
der begrenzten Zahl der externen Anschlüsse bei größeren integrierten Schaltungen fast
zwangsläufig die Aufgabe hinzu Testbarkeitsaspekte beim Entwurf zu berücksichtigen da
andernfalls ein hinreichender Test häufig nicht oder nur mit größeren Schwierigkeiten
durchzuführen ist. Das liegt an der Zugänglichkeit integrierter Schal tungen die durch die
Anzahl externer Anschlüsse beschränkt ist. Aus diesen und anderen Gründen ist der Test
digitaler Schaltungen sinnvollerweise zusammen mit Überlegungen zur Testbarkeit einer Schaltung
zu sehen. Traditionell ist der Test digitaler Schaltungen um die logische Entwurfsebene herum
ange ordnet d.h. daß die logische Ebene den Ausgangspunkt für die Testvorbereitung und die
Testdurchführung darstellt. Es gibt darüber hinaus heute auch Ansätze die von hierar chisch
höheren Ebenen ausgehen doch hat sich bisher in diesem Bereich keine allgemein anerkannte
Methodik etabliert wie das für die logische Ebene der Fall ist. Es ist jedoch auch für den
Testbereich wichtig der wachsenden Komplexität der Schaltungen dadurch Rechnung zu tragen daß
man hierarchische Methoden für deren Prüfung einsetzt. Die Notwendigkeit eine Schaltung zu
prüfen ergibt sich im Rahmen ihrer Entstehung mehrfach wenn auch mit unterschiedlicher
Zielsetzung.
