9783527349517 - Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials - Andrew T S Wee Xinmao Yin Chi Sin Tang Kartoniert (TB)

EAN: 9783527349517

Produktdaten aktualisiert am: 05.11.2024
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Dieses Buch ist eine aktualisierte Einführung in die Anwendung der spektrometrischen Ellipsometrie mit ihrem praktischen Einsatz bei der Untersuchung von Grenzflächeneigenschaften Elektronenstrukturen und Quasiteilcheneigenschaften verschiedener Klassen von Dünnschichtmaterialien.

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