Diese Arbeit beschreibt den neuartigen Einsatz von breitbandigen kontinuierlichen
Frequenzweichen für die Parallelisierung von Millimeterwellen-On-Wafer-Messtechnik durch die
Integration in On-Wafer-Messspitzen. Eine modellbasierte Methode für den effizienten Entwurf
von Frequenzweichen mit einer Vielzahl einstellbarer Parameter ermöglicht die erstmalige
Realisierung einer DC - 110 GHz - 170 GHz Frequenzweiche. This work describes the novel use of
broadband continuous diplexers that could be integrated into on-wafer probes to parallize
millimeter wave on-wafer measurement equipment. A model-based method for the efficient design
of diplexers with a large number of adjustable parameters allows the realization of a DC - 110
GHz - 170 GHz diplexer for the first time.
